<tfoot id="kcu8q"></tfoot>
DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀
一、概述
DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量?jì)x器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā凡⒖济绹?nbsp;A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤(pán)輸入。具有零位、滿(mǎn)度自校功能、電壓電流全自動(dòng)轉換量程、測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類(lèi)功能，大分類(lèi)10類(lèi)。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類(lèi)半導體、金屬、導電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量。配專(zhuān)用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針?lè )y試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針?lè )y試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測試臺的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導體材料廠(chǎng)器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對導體、半導體、類(lèi)半導體材料的導電性能的測試。
二、基本技術(shù)參數
1.測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個(gè)數量級）
電阻：10.0×10-6～200.0×103Ω，分辨率：1.0×10-6～0.1×103Ω
（1.0×10-6～20.00×103Ω，分辨率：0.1×10-6～0.01×103Ω）
電阻率：10.0×10-6～200.0×103Ω-cm，分辨率：1.0×10-6～0.1×103Ω-cm
（1.0×10-6～20.00×103Ω-cm，分辨率：0.1×10-6～0.01×103Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6～1.0×106Ω/□，分辨率5.0×10-6～0.5×103Ω/□
（5.0×10-6～100.0×103Ω/□，分辨率0.5×10-6～0.1×103Ω/□）
2.材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
直徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式Φ15～130mm，手持方式不限。
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限。
長(cháng)(高)度：測試臺直接測試方式H≤100mm，手持方式不限。
測量方位：軸向、徑向均可。
3.量程劃分及誤差等級
| 滿(mǎn)度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
| 常規量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- | ||||
| 大拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
| 基本誤差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
4.工作電源：220V±10％,f=50Hz±4％,PW≤5W
5.外形尺寸：245mm（長(cháng)）×220mm（寬）×95mm（高）
凈重：≤1.5～2.0kg
